I Workshop LMCT/CETEM de Caracterização Tecnológica

8:45

Abertura

9:00

Palestra 1
The Evolution of Microscopy in an AI World – Where Next?
Dr. Eddy Hill
Zeiss Sector Manager of Raw Materials

9:30

Palestra 2
Machine Learning in material science and in microscopy – use cases for microstructure analysis and research topics
M.Sc. Andreas Jansche, Dr. Timo Bernthaler
Materials Research Institute, Aalen University & Matworks GmbH, Germany

10:15

Intervalo

10:30

Minicurso
Fundamentos de Processamento e Análise de Imagens
Dr. Otávio da Fonseca Martins Gomes
CETEM/MCTI e PPGEO/Museu Nacional/UFRJ

12:30

Almoço

14:00

Palestra 3
Quantificação de fases em aços através de software com Machine Learning
Henrique Severiano
Especialista de Laboratórios
ArcelorMittal Tubarão

14:30

Palestra 4
Visão Computacional Aplicada à Caracterização de Materiais
Dra. Karen Soares Augusto
Grupo de Pesquisa em Microscopia Digital e Análise de Imagens, PUC-Rio

15:00

Intervalo

15:15

Palestra 5
Uso de Microscopia Correlativa para o treinamento de modelos Deep Learning
Dr. Otávio da Fonseca Martins Gomes
CETEM/MCTI e PPGEO/Museu Nacional/UFRJ

15:45

Palestra 6
Gestão e mineração de dados correlacionais em análise de imagens
Elysio Neto
MBA em Business Intelligence – Gerente Zeiss Brasil

16:15

Encerramento e Confraternização